見えにくい欠陥を強調し検出する画像処理ソフト
半導体ウェハーのような同系色製品中の見えにくい傷
髪の毛などの分かりにくい異物混入
などの欠陥を検出できる独自の画像処理フィルターを搭載しています。 検査したい画像をアップロードするだけですぐに外観検査を始めることができます。
49Mierre
49Mierreとは？
49Mierreの圧倒的な欠陥強調力
以下の画像は基板製品の表面画像です。 オリジナル画像のままだと、欠陥がどこにあるか目を凝らさないと（あるいは目を凝らしても）わかりません。
49Mierre処理前
▲オリジナル画像
▲オリジナル画像に対して正確な欠陥位置をマークした画像
このような製品に対して、画像のRGB値を調整する当社の独自フィルター技術により、欠陥の検出を可能にしました。 RGB値のピークが白線より左側に入るようにパラメータを調節するだけで、見えづらい欠陥を容易に検出できます。
▲RGB値データ
▲調節パラメータ
49Mierre処理後
当社の独自フィルターを通すと以下のように欠陥を検出することができます。 オリジナル画像に対して正確な欠陥位置をマークした画像と比較すると、49Mierreにより正確な欠陥位置を検出できていることがわかります。
▲当社の独自フィルター適用画像
▲49Mierreの結果画像
事例紹介
事例① 干渉縞のある基板製品の表面
干渉縞と欠陥が混在しているようなサンプルでも、しっかりと欠陥のみを検出しています。
49Mierre処理前
▲オリジナル画像
49Mierre処理後
▲49Mierreの結果画像
事例② 線状転位のある基板製品の表面
線状転位と欠陥が混在しているようなサンプルでも、しっかりと欠陥のみを検出しています。
49Mierre処理前
▲オリジナル画像
49Mierre処理後
▲49Mierreの結果画像
事例③ 異物混入
小麦粉に紛れ込んだ毛髪を検出しています。 このように、ある程度単一色なサンプルであれば簡単に検出することができます。
49Mierre処理前
▲オリジナル画像
49Mierre処理後
▲49Mierreの結果画像
事例④ キズ
木目状の製品についた傷を検出しています。
撮影の際に影が入ってしまっても、ある程度単一色なサンプルであれば問題なく検出することができます。
49Mierre処理前
▲オリジナル画像
49Mierre処理後
▲49Mierreの結果画像
導入の流れ
STEP① お問い合わせ
49Mierre for OpenPoCのダウンロードはこちらへお問い合わせください。
STEP② 実証実験（PoC）
ダウンロードしたソフトを用いて貴社内で49Mierreの実証実験を実施していただきます。
貴社内で実証実験が可能であるため、ノウハウや機密データを社外に持ち出す必要はありません。
また、実証実験中のソフトの利用に対するコストはかかりません。
STEP③ 導入準備
ご報告いただいた結果をもとにラインへの導入準備を進めていきます。
お打ち合わせを通して貴社の製品に関するヒアリングや予算等をもとに弊社パートナー企業とともに導入可能性を検討させて頂きます。
貴社の製品・製作工程に特化した組み込みアプリの開発を行い、ライン導入時の生産効率化を担います。
STEP④ 本導入
ラインへの導入が決定しましたら、ライセンスをご購入いただきます。
本導入後は、マニュアルを用意し、貴社自身で運用ができるようにいたします。
ご希望に応じて、保守・運用サポート、技術支援、最新技術情報の提供などを行い、お客様が安心してお使いいただけるようにサポートいたします。
49Mierre OpenPoC版のダウンロード
49Mierre OpenPoC版の使い方
お問い合わせ
実証実験に関する相談や製品版のご購入、バグ報告、その他のお問い合わせはこちらから。
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