株式会社渡辺商行のSEMICON Japan 2025出展案内に、NuLMiLが紹介製品として掲載されました。主催者の出展者・製品ガイドでも、同社が取り扱う画像外観検査AIとして紹介されています。
- 会期
- 2025年12月17日〜19日（終了）
- 会場
- 東京ビッグサイト 西1ホール
- 出展者・小間
- 株式会社渡辺商行・グループ会社／W1057
- 紹介製品
- 画像外観検査AI NuLMiL
半導体周辺の製造工程でも、対象物、欠陥の種類、必要な処理時間に応じた検査設計が必要です。当社は、検査画像を用いた価値検証から、撮像・設備連携を含む導入の検討まで支援します。
出典：渡辺商行の出展案内 / SEMI公式製品ガイド