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展示会・撮像連携パートナー公表日

EdgeTech+ 2025:加賀FEIの出展紹介に当社の外観検査AI

キヤノン・コンポーネンツのラインスキャンカメラと当社の外観検査AIが、加賀FEIの紹介内容に掲載されました。

EdgeTech+ 2025の加賀FEI株式会社の出展紹介に、キヤノン・コンポーネンツ株式会社のラインスキャンカメラとAnamorphosis Networksの外観検査AIが掲載されています。撮像とAI検査を組み合わせた紹介です。

会期
2025年11月19日〜21日(終了)
会場
パシフィコ横浜 展示ホールB
出展者・小間
加賀FEI株式会社/BK-05
紹介内容
ラインスキャンカメラ・当社の外観検査AI
設備の前で作業する当社エンジニア
開発イメージ

AIの判断には、見たい欠陥を捉えられる画像が欠かせません。当社は、現場の判定基準を確認し、撮像条件とAIの学習方法を一緒に検討します。カメラ、照明、検査対象、処理時間などの条件からご相談ください。

出典:加賀FEIの出展公表(2025年10月15日) / 加賀FEIの展示詳細 / 加賀電子の会社名を明記した展示紹介

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