株式会社渡辺商行の「第40回ネプコン ジャパン」出展案内に、AI外観検査「NuLMiL」が掲載されています。パートナーによる、電子部品・製造工程向けの製品紹介です。
- 会期
- 2026年1月21日〜23日（終了）
- 会場
- 東京ビッグサイト 東展示棟
- 出展者・小間
- 株式会社渡辺商行／E39-56
- 製品
- AI外観検査 NuLMiL
NuLMiLは、画像による品質判定と不良の分類を支援するAIです。工程に組み込む際には、撮像・判定・結果の受け渡しを一緒に設計します。検査ソフトウェアと現場実装の相談については、当社へお問い合わせください。