49Mierreとは?

見えにくい欠陥を強調し検出する
画像処理ソフト

  • 半導体ウエハーのような同系色製品中の見えにくい傷
  • 髪の毛などの分かりにくい異物混入

などの欠陥を検出できる独自の画像処理フィルターを搭載しています。検査したい画像をアップロードするだけですぐに 外観検査 を始めることができます。

外観検査 49Mierre 画像処理

事例紹介

事例① 干渉縞のある基板製品の表面

干渉縞と欠陥が混在しているような半導体ウエハーでも、しっかりと欠陥のみを検出しています。

外観検査 49Mierre 画像処理 基盤
▲オリジナル画像
外観検査 49Mierre 画像処理 結果
▲49Mierreの結果画像

事例② 線状転位のある基板製品の表面

線状転位と欠陥が混在しているような半導体ウエハーでも、しっかりと欠陥のみを検出しています。

外観検査 49Mierre 画像処理 基盤
▲オリジナル画像
外観検査 49Mierre 画像処理 基盤 結果
▲49Mierreの結果画像

事例③ 異物混入

小麦粉に紛れ込んだ毛髪を検出しています。 このように、ある程度単一色なサンプルであれば簡単に検出することができます。

外観検査 49Mierre 画像処理 異物
▲オリジナル画像
外観検査 49Mierre 画像処理 異物 結果
▲49Mierreの結果画像

事例④ キズ

木目状の製品についた傷を検出しています。
撮影の際に影が入ってしまっても、ある程度単一色なサンプルであれば問題なく検出することができます。

外観検査 49Mierre 画像処理 キズ
▲オリジナル画像
外観検査 49Mierre 画像処理 キズ 結果
▲49Mierreの結果画像

49Mierreの圧倒的な欠陥強調力

以下の画像は基板製品の表面画像です。 オリジナル画像のままだと、欠陥を見抜くことは肉眼では難しいです。

49Mierre処理前

外観検査 49Mierre 画像処理 キズ
▲オリジナル画像
外観検査 49Mierre 画像処理 結果
▲オリジナル画像に対して、手動で正確な欠陥位置をマークした画像

このような製品に対して、画像のRGB値を調整する当社の独自フィルター技術により、欠陥の検出を可能にしました。 RGB値のピークが白線より左側に入るようにパラメータを調節するだけで、見えづらい欠陥を容易に検出できます。

外観検査 49Mierre 画像処理 RGB
▲RGB値データ
外観検査 49Mierre 画像処理 調節 パラメータ
▲調節パラメータ

49Mierre処理後

当社の独自フィルターを通すと以下のように欠陥を検出することができます。 オリジナル画像に対して正確な欠陥位置をマークした画像と比較すると、49Mierreにより正確な欠陥位置を検出できていることがわかります。

外観検査 49Mierre 画像処理 独自フィルター
▲当社の独自フィルター適用画像
外観検査 49Mierre 画像処理 独自フィルター 結果
▲49Mierreの結果画像